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半导体参数测试仪(Keithley4200)
发布时间:2014-09-16 点击浏览:

技术参数:

SMU的分辨率扩展至0.1fA;脉冲I-V能力用于先进半导体测试;集成的示波器和脉冲测量功能

主要应用领域:

应用半导体器件C-V/I-V特性分析,晶圆级可靠性封装器件特性分析。

 
 
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