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半导体参数测试仪(Keithley4200)
发布时间:2014-09-16 点击浏览:次
技术参数:
SMU
的分辨率扩展至
0.1fA
;脉冲
I-V
能力用于先进半导体测试;集成的示波器和脉冲测量功能
主要应用领域:
应用半导体器件
C-V/I-V
特性分析,晶圆级可靠性封装器件特性分析。
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